MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀
更新時(shí)間:2024-09-10
產(chǎn)品特點(diǎn):
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀介紹: MCT200涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,高精度、高亮屏、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、反應(yīng)靈敏、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕、美觀大方。*,現(xiàn)貨供應(yīng),銷售: 王海峰
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀介紹: MCT200涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,高精度、高亮屏、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、反應(yīng)靈敏、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕、美觀大方。*,現(xiàn)貨供應(yīng),銷售: 王海峰
- 上一個(gè):GL900日本圖技記錄儀
- 下一個(gè):PROVA-100中國(guó)臺(tái)灣PROVA-100回路校正器
產(chǎn)品介紹
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀概述
MCT200便攜式涂(鍍)膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù),高精度、高亮屏、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、反應(yīng)靈敏、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕、美觀大方;MCT200涂層測(cè)厚儀具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的較高水平,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂層、鍍層厚度的測(cè)量,也可進(jìn)行薄膜厚度測(cè)量。MCT200涂層測(cè)厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域,是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng) 。
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
l MCT200涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,磁感應(yīng)可用來(lái)測(cè)量所有磁性基體(如鋼、鐵)上的非磁性涂鍍層(如油漆、防腐層、鍍鋅層、鍍銅層等)。
渦流可用來(lái)測(cè)量所有非磁性金屬(如銅、鋁、不銹鋼)上面的非導(dǎo)電涂層(如油漆、防腐層、氧化膜)。
測(cè)量范圍:(0~1250) μm(F1、N1測(cè)頭),F10測(cè)頭可達(dá)10mm;
渦流可用來(lái)測(cè)量所有非磁性金屬(如銅、鋁、不銹鋼)上面的非導(dǎo)電涂層(如油漆、防腐層、氧化膜)。
測(cè)量范圍:(0~1250) μm(F1、N1測(cè)頭),F10測(cè)頭可達(dá)10mm;
l 分 辨 率:0.1μm (F1、N1測(cè)頭)
l 示值精度:±(3%H+1) μm; H為被測(cè)涂層厚度
l 顯示方法:高對(duì)比度的段碼液晶顯示,高亮度EL背光;
l 存儲(chǔ)容量:可存儲(chǔ)20組(每組zui多50個(gè)測(cè)量值)測(cè)量數(shù)據(jù)
l 單位制:公制(μm)、英制(mil),可自由轉(zhuǎn)換
l 工作電壓:3V(2節(jié)5號(hào)堿性電池)
l 持續(xù)工作時(shí)間:大于200小時(shí)(不開(kāi)背光時(shí))
l 通訊接口:USB1.1,可與PC機(jī)連接、通訊
l 外形尺寸:125mm×67mm×31 mm
l 整機(jī)重量:340g
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀主要功能
l 有十種測(cè)頭類型可供選擇,測(cè)頭接觸部件鍍硬鉻或?yàn)榧t寶石,經(jīng)久耐用;
l 自動(dòng)識(shí)別探頭
l 可以在測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù),采用手機(jī)菜單式功能選擇方式,操作十分簡(jiǎn)便。
l 可設(shè)定上下限值,測(cè)量結(jié)果大于等于上下限數(shù)值時(shí),儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。
l 穩(wěn)定性*,不必校正便可長(zhǎng)期使用。
l 可以對(duì)單個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除
l 操作過(guò)程中有蜂鳴聲提示
l 通過(guò)屏顯或蜂鳴聲對(duì)錯(cuò)誤進(jìn)行提示
l 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)
l 通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭,既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;
l 具有測(cè)頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
l 具有測(cè)量狀態(tài)提示功能;
l 有EL背光顯示,方便在光線昏暗環(huán)境中使用;
l 有剩余電量指示功能,可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量;
l 具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能;
l 帶有USB1.1通訊接口,可將測(cè)量值傳輸至PC機(jī)。
l 可選擇配備微機(jī)軟件,具有傳輸測(cè)量結(jié)果、測(cè)值存儲(chǔ)管理、測(cè)值統(tǒng)計(jì)分析、打印測(cè)值報(bào)告等豐富功能;
l 采用鋁制外殼,小巧、便攜、堅(jiān)實(shí)耐用,適用于惡劣的操作環(huán)境,抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾;
l MCT200便攜式涂(鍍)膜層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 4956─2003 磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法
GB/T 4956─2003 磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法
GB/T 4957─2003 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量渦流法
JB/T 8393─1996 磁性、渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JG 818─2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x》
MCT200涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀器配置
| 序號(hào) | 名稱 | 數(shù)量 | 備注 |
標(biāo)準(zhǔn) 配置 | 1 | 主機(jī) | 1臺(tái) | |
2 | F1測(cè)頭 | 1只 | 或N1測(cè)頭 | |
3 | 校準(zhǔn)片 | 5片 | | |
4 | 校零基體 | 1塊 | 根據(jù)測(cè)頭選配 | |
5 | 儀器箱 | 1只 | | |
6 | 隨機(jī)資料 | 1份 | | |
7 | AA(5號(hào))尺寸堿性電池 | 2只 | | |
8 | | | | |
可選 配置 | 9 | 其它類型測(cè)頭 | | 根據(jù)用途選擇 |
10 | 數(shù)據(jù)管理軟件 | 1套 | 軟件光盤(pán) | |
11 | USB通訊線纜 | 1條 | |
5工作條件
環(huán)境溫度:操作溫度-20℃~+50℃;存儲(chǔ)溫度:-30℃~+70℃
相對(duì)濕度≤90%;
周圍環(huán)境無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈磁場(chǎng)、無(wú)腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。
覆蓋層 基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、 塑料和陽(yáng)極化處理等) | ||||
覆蓋層厚度不超過(guò)100mm | 覆蓋層厚度超過(guò)100mm | ||||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積的直徑 大于30mm | F400型測(cè)頭 0~400mm F1型測(cè)頭 0~1250mm | F1型測(cè)頭 0~1250mm F5型測(cè)頭 0~5mm F10型測(cè)頭 0~10mm | ||
被測(cè)面積的直徑 小于30mm | F400型測(cè)頭 0~400mm | F1型測(cè)頭 0~1250mm F400型測(cè)頭 0~400mm | |||
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫 等 有色金屬 | 被測(cè)面積的直徑 大于10mm | N400型測(cè)頭 0~400mm | N400型測(cè)頭 0~400mm N10型測(cè)頭 0~10mm | ||
被測(cè)面積的直徑 小于10mm | N400型測(cè)頭 0~400mm | N1型測(cè)頭 0~1250mm N400型測(cè)頭 0~400mm | |||
| | | | ||
覆蓋層 基體 | 非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) | ||||
覆蓋層厚度不超過(guò)100mm | 覆蓋層厚度超過(guò)100mm | ||||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積的直徑 大于30mm | F400型測(cè)頭 0~400mm | F400型測(cè)頭 0~400mm F1型測(cè)頭 0~1250mm F5型測(cè)頭 0~5mm F10型測(cè)頭 0~10mmm | ||
被測(cè)面積的直徑 小于30mm | F400型測(cè)頭 0~400mm F1型測(cè)頭 0~1250mm | F400型測(cè)頭 0~400µm F1型測(cè)頭 0~1250mm | |||
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等 有色金屬 | 被測(cè)面積的直徑 大于10mm | 僅用于銅上鍍鉻 N400型測(cè)頭 0~40mm | -------- | ||
被測(cè)面積的直徑 小于10mm | -------- | -------- | |||
塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測(cè)面積大 | CN200型測(cè)頭10~200mm | CN200型測(cè)頭10~200mm |
更多產(chǎn)品
- 代替原FMP20/FMP40德國(guó)菲希爾DPM20/DMP 40 便攜式涂層測(cè)厚儀
- 代替原FMP10/FMP30德國(guó)菲希爾DPM10/DMP 30 便攜式涂層測(cè)厚儀
- 德國(guó)菲希爾FMP150 涂層測(cè)厚儀
- 菲希爾PMP10 DUPLEX手持式電鍍鍍層測(cè)厚儀
- 菲希爾PHASCOPE PMP10手持式電鍍鍍層測(cè)厚儀
- 菲希爾MMS INSPECTION DFT 涂層測(cè)厚儀
- 美國(guó)ilakor LK10-FN1涂層測(cè)厚儀
- 美國(guó)ilakor LK10-F1涂層測(cè)厚儀
- 尼克斯QNix 4500B云涂層測(cè)厚儀
- PosiTest DFT-Combo型涂層測(cè)厚儀
在線留言